[IEEE 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium...

[IEEE 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Phoenix, AZ, USA (2008.04.27-2008.05.1)] 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium - Reliability assessment of AlGaN/GaN HEMT technology on SiC for 48V applications

Sangmin Lee,, Vetury, Ramakrishna, Brown, Jeffrey D., Gibb, Shawn R., Cai, Will Z., Jinming Sun,, Green, Daniel S., Shealy, Jeff

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Рік:

2008

Мова:

english

DOI:

10.1109/relphy.2008.4558926

Файл:

PDF, 179 KB

english, 2008

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась