Scanning transmission electron microscope study on vertically correlated InGaAs∕GaAs quantum dots
Sauerwald, A., Kümmell, T., Peskes, D., Bacher, G., Löffler, A., Reithmaier, J. P., Forchel, A.Том:
89
Рік:
2006
Мова:
english
Журнал:
Applied Physics Letters
DOI:
10.1063/1.2221890
Файл:
PDF, 476 KB
english, 2006
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
