A transmission x-ray microscope based on secondary-electron imaging
Watts, R. N., Liang, S., Levine, Z. H., Lucatorto, T. B., Polack, F., Scheinfein, M. R.Том:
68
Рік:
1997
Мова:
english
Журнал:
Review of Scientific Instruments
DOI:
10.1063/1.1148309
Файл:
PDF, 640 KB
english, 1997