Point defects in Si thin films grown by molecular beam...

Point defects in Si thin films grown by molecular beam epitaxy

Gossmann, H.-J., Asoka-Kumar, P., Leung, T. C., Nielsen, B., Lynn, K. G., Unterwald, F. C., Feldman, L. C.

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

1992

Мова:

english

Журнал:

Applied Physics Letters

DOI:

10.1063/1.107881

Файл:

PDF, 676 KB

english, 1992

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась