Thermal stress-induced, high-strain fragmentation of buried...

Thermal stress-induced, high-strain fragmentation of buried SiGe layers grown on Si

Fatemi, M., Thompson, P. E., Twigg, M. E.

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

1995

Мова:

english

Журнал:

Applied Physics Letters

DOI:

10.1063/1.114290

Файл:

PDF, 360 KB

english, 1995

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась