Structural evolution of dislocation half-loops in epitaxial BaTiO[sub 3] thin films during high-temperature annealing
Sun, H. P., Pan, X. Q., Haeni, J. H., Schlom, D. G.Том:
85
Рік:
2004
Мова:
english
Журнал:
Applied Physics Letters
DOI:
10.1063/1.1789233
Файл:
PDF, 643 KB
english, 2004