Ferroelectric properties and leakage current mechanisms in SrBi2(V0.1Nb0.9)2O9 (SBVN) thin films
S. Ezhilvalavan, Victor Samper, Toh Wei Seng, Xue Junmin, John WangТом:
30
Рік:
2004
Мова:
english
Сторінки:
4
DOI:
10.1016/j.ceramint.2003.12.128
Файл:
PDF, 92 KB
english, 2004