[IEEE 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium - Montreal, QC, Canada (2009.04.26-2009.04.30)] 2009 IEEE International Reliability Physics Symposium - Critical ultra low-k TDDB reliability issues for advanced CMOS technologies
Chen, F., Shinosky, M., Li, B., Gambino, J., Mongeon, S., Pokrinchak, P., Aitken, J., Badami, D., Angyal, M., Achanta, R., Bonilla, G., Yang, G., Liu, P., Li, K., Sudijono, J., Tan, Y., Tang, T. J., CРік:
2009
Мова:
english
DOI:
10.1109/irps.2009.5173298
Файл:
PDF, 679 KB
english, 2009
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
