In situ monitoring of the stress evolution in growing group-III-nitride layers
A. Krost, A. Dadgar, F. Schulze, J. Bläsing, G. Strassburger, R. Clos, A. Diez, P. Veit, T. Hempel, J. ChristenТом:
275
Рік:
2005
Мова:
english
Сторінки:
8
DOI:
10.1016/j.jcrysgro.2004.10.090
Файл:
PDF, 378 KB
english, 2005