The new Stockholm Electron Beam Ion Trap (S-EBIT)

Schuch, R, Tashenov, S, Orban, I, Hobein, M, Mahmood, S, Kamalou, O, Akram, N, Safdar, A, Skog, P, Solders, A, Zhang, H

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Мова:

english

Журнал:

Journal of Instrumentation

DOI:

10.1088/1748-0221/5/12/C12018

Date:

December, 2010

Файл:

PDF, 7.73 MB

english, 2010

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась