Investigation of diode geometry and metal line pattern for robust ESD protection applications
You Li, Juin J. Liou, Jim VinsonТом:
48
Рік:
2008
Мова:
english
Сторінки:
4
DOI:
10.1016/j.microrel.2008.04.019
Файл:
PDF, 163 KB
english, 2008
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
