Reservoir effect and the role of low current density...

Reservoir effect and the role of low current density regions on electromigration lifetimes in copper interconnects

Gan, Z.H., Shao, W., Mhaisalkar, S.G., Chen, Z., Li, Hongyu, Tu, K.N., Gusak, A.M.

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Мова:

english

Журнал:

Journal of Materials Research

DOI:

10.1557/jmr.2006.0270

Date:

September, 2006

Файл:

PDF, 233 KB

english, 2006

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась