Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Characterization of RF Sputter-Deposited Ti-W Schottky...

Characterization of RF Sputter-Deposited Ti-W Schottky Barrier Diodes in Boron-Doped Silicon

Paz, O.
Наскільки Вам сподобалась ця книга?
Яка якість завантаженого файлу?
Скачайте книгу, щоб оцінити її якість
Яка якість скачаних файлів?
Том:
131
Рік:
1984
Мова:
english
Журнал:
Journal of The Electrochemical Society
DOI:
10.1149/1.2115944
Файл:
PDF, 465 KB
english, 1984
Виконується конвертація в
Конвертація в не вдалась