CL/EBIC-SEM Techniques for Evaluation of Impact of Crystallographic Defects on Carrier Lifetime in 4H-SiC Epitaxial Layers
Maximenko, Serguei I., Freitas Jr., Jaime A., Picard, Yoosuf N., Klein, Paul B., Myers-Ward, Rachael L., Lew, Kok Keong, Muzykov, Peter G., Gaskill, D. Kurt, Eddy Jr., Charles R., Sudarshan, Tangali SТом:
645-648
Мова:
english
Журнал:
Materials Science Forum
DOI:
10.4028/www.scientific.net/MSF.645-648.211
Date:
April, 2010
Файл:
PDF, 1.99 MB
english, 2010
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
