Temperature dependences of the contact resistivity in ohmic contacts ton+-InN
Sachenko, A. V., Belyaev, A. E., Boltovets, N. S., Brunkov, P. N., Jmerik, V. N., Ivanov, S. V., Kapitanchuk, L. M., Konakova, R. V., Klad’ko, V. P., Romanets, P. N., Saja, P. O., Safryuk, N. V., SherТом:
49
Мова:
english
Журнал:
Semiconductors
DOI:
10.1134/s1063782615040193
Date:
April, 2015
Файл:
PDF, 1.10 MB
english, 2015