The influence of interface states and bulk carrier lifetime on the minority carrier behavior in an illuminated metal/insulator/GaN structure
Marcin Miczek, Piotr Bidziński, Bogusława Adamowicz, Chihoko Mizue, Tamotsu HashizumeТом:
151
Рік:
2011
Мова:
english
Сторінки:
4
DOI:
10.1016/j.ssc.2011.03.021
Файл:
PDF, 295 KB
english, 2011
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
