High-k-oxide/silicon interfaces characterized by...

High-k-oxide/silicon interfaces characterized by capacitance frequency spectroscopy

B. Raeissi, J. Piscator, O. Engström, S. Hall, O. Buiu, M.C. Lemme, H.D.B. Gottlob, P.K. Hurley, K. Cherkaoui, H.J. Osten

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

2008

Мова:

english

Сторінки:

DOI:

10.1016/j.sse.2008.04.005

Файл:

PDF, 350 KB

english, 2008

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась