The influence of visible light on the gate bias instability of In–Ga–Zn–O thin film transistors
Sangwook Kim, Sunil Kim, Changjung Kim, JaeChul Park, Ihun Song, Sanghun Jeon, Seung-Eon Ahn, Jin-Seong Park, Jae Kyeong JeongТом:
62
Рік:
2011
Мова:
english
Сторінки:
5
DOI:
10.1016/j.sse.2011.04.014
Файл:
PDF, 758 KB
english, 2011