Radius Measurement of Tegular Rounded Material Based on Sublevel Concentration Sample Method
Li, Yao Qiu, Wang, RuiТом:
588-589
Мова:
english
Журнал:
Advanced Materials Research
DOI:
10.4028/www.scientific.net/AMR.588-589.1023
Date:
November, 2012
Файл:
PDF, 286 KB
english, 2012
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
