Optical properties of SiO2/nanocrystalline Si multilayers studied using spectroscopic ellipsometry
Kang-Ju Lee, Tae-Dong Kang, Hosun Lee, Seung Hui Hong, Suk-Ho Choi, Tae-Yeon Seong, Kyung Joong Kim, Dae Won MoonТом:
476
Рік:
2005
Мова:
english
Сторінки:
5
DOI:
10.1016/j.tsf.2004.09.037
Файл:
PDF, 319 KB
english, 2005
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
