Interface analysis of Ge ultra thin layers intercalated between GaAs substrates and oxide stacks
Alessandro Molle, Luca Lamagna, Sabina Spiga, Marco Fanciulli, Guy Brammertz, Marc MeurisТом:
518
Рік:
2010
Мова:
english
Сторінки:
1
DOI:
10.1016/j.tsf.2009.10.069
Файл:
PDF, 800 KB
english, 2010
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
