Structural properties of low-temperature grown ZnO thin films determined by X-ray diffraction and X-ray absorption spectroscopy
Chung-Jong Yu, Nark-Eon Sung, Han-Koo Lee, Hyun-Joon Shin, Young-Duck Yun, Seen-Woong Kang, Ik-Jae LeeТом:
519
Рік:
2011
Мова:
english
Сторінки:
5
DOI:
10.1016/j.tsf.2011.02.009
Файл:
PDF, 384 KB
english, 2011
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
