Investigation of CdS thin films by a near-field microwave microprobe
Tigran Sargsyan, Artur Hovsepyan, Harutyun Melikyan, Youngwoon Yoon, Huneung Lee, Arsen Babajanyan, Mijung Kim, Deokjoon Cha, Kiejin LeeТом:
108
Рік:
2008
Мова:
english
Сторінки:
4
DOI:
10.1016/j.ultramic.2008.04.066
Файл:
PDF, 789 KB
english, 2008