Determination of silicon in nickel-based alloys using electrothermal atomic absorption spectrometry with longitudinal Zeeman-effect background correction and zinc oxide pretreatment
Shi-Yang Chen, Ming-Shu Wu, Suh-Jen Jane TsaiТом:
435
Рік:
2001
Мова:
english
Сторінки:
10
DOI:
10.1016/s0003-2670(01)00855-8
Файл:
PDF, 148 KB
english, 2001