Multi-eigenmode control for high material contrast in bimodal and higher harmonic atomic force microscopy
Schuh, Andreas, Bozchalooi, Iman Soltani, Rangelow, Ivo W, Youcef-Toumi, KamalТом:
26
Мова:
english
Журнал:
Nanotechnology
DOI:
10.1088/0957-4484/26/23/235706
Date:
June, 2015
Файл:
PDF, 6.22 MB
english, 2015
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
