3-D finite element simulation of wafer thermal distortion and stress fields in exposure process
Zone-Ching Lin, Wen-Jang WuТом:
45
Рік:
2002
Мова:
english
Сторінки:
12
DOI:
10.1016/s0017-9310(01)00163-6
Файл:
PDF, 671 KB
english, 2002