The total dose effects on the 1/ f noise of deep submicron CMOS transistors
Hu, Rongbin, Wang, Yuxin, Lu, WuТом:
35
Мова:
english
Журнал:
Journal of Semiconductors
DOI:
10.1088/1674-4926/35/2/024006
Date:
February, 2014
Файл:
PDF, 284 KB
english, 2014