Total dose dependence of radiation-induced leakage current...

Total dose dependence of radiation-induced leakage current in ultra-thin gate oxides

M. Ceschia, A. Paccagnella, A. Scarpa, A. Cester, G. Ghidini

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

1999

Мова:

english

Сторінки:

DOI:

10.1016/s0026-2714(98)00233-9

Файл:

PDF, 239 KB

english, 1999

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась