A study of the interface states in MIS-structures with thin...

A study of the interface states in MIS-structures with thin SiO2 and SiOxNy layers using deep level transient spectroscopy

R. Beyer, H. Burghardt, E. Thomas, R. Reich, D.R.T. Zahn, T. Geßner

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

1999

Мова:

english

Сторінки:

DOI:

10.1016/s0026-2714(98)00235-2

Файл:

PDF, 224 KB

english, 1999

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась