Degradation mechanisms in polysilicon emitter bipolar junction transistors for digital applications
Loris Vendrame, Paolo Pavan, Giulio Corva, Alessandra Nardi, Andrea Neviani, Enrico ZanoniТом:
40
Рік:
2000
Мова:
english
Сторінки:
24
DOI:
10.1016/s0026-2714(99)00217-6
Файл:
PDF, 780 KB
english, 2000
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
