Effect of stress on interface transformation in thin semiconducting layers
J Bak-Misiuk, J Domagala, A Misiuk, J Sadowski, Z.R Zytkiewicz, J Trela, I.V AntonovaТом:
380
Рік:
2000
Мова:
english
Сторінки:
3
DOI:
10.1016/s0040-6090(00)01528-5
Файл:
PDF, 1012 KB
english, 2000