Wavelet strategy for surface roughness analysis and characterisation
Bruno Josso, David R. Burton, Michael J. LalorТом:
191
Рік:
2001
Мова:
english
Сторінки:
14
DOI:
10.1016/s0045-7825(01)00292-4
Файл:
PDF, 434 KB
english, 2001
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
