AIP Conference Proceedings [AIP INTERNATIONAL CONFERENCE ON ADVANCED PHASE MEASUREMENT METHODS IN OPTICS AND IMAGING - Monte Verita (Ascona) (16–21 May 2010)] - Ptychographic Imaging of Low-Contrast Specimens
Menzel, Andreas, Kewish, Cameron M., Dierolf, Martin, Thibault, Pierre, Pfeiffer, Franz, Bunk, Oliver, Rastogi, Pramod K., Hack, ErwinРік:
2010
Мова:
english
DOI:
10.1063/1.3426111
Файл:
PDF, 87 KB
english, 2010
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
