Observation of Si(1 0 0) surface with noncontact atomic force microscope at 5 K
T. Uozumi, Y. Tomiyoshi, N. Suehira, Y. Sugawara, S. MoritaТом:
188
Рік:
2002
Мова:
english
Сторінки:
6
DOI:
10.1016/s0169-4332(01)00939-4
Файл:
PDF, 364 KB
english, 2002