Dynamic Driving Current Using Side Gate Bias of Single-Electron Transistors
Lee, Joung-Eob, Kim, Garam, Kim, Kyung-Wan, Lee, Jung-Han, Kang, Kwon-Chil, Lee, Jong-Ho, Shin, Hyungcheol, Park, Byung-GookТом:
50
Мова:
english
Журнал:
Japanese Journal of Applied Physics
DOI:
10.1143/JJAP.50.074101
Date:
July, 2011
Файл:
PDF, 945 KB
english, 2011
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
