[IEEE 2014 IEEE International Test Conference (ITC) - Seattle, WA, USA (2014.10.20-2014.10.23)] 2014 International Test Conference - Divide and conquer diagnosis for multiple defects
Chao, Shih-Min, Chen, Po-Juei, Chen, Jing-Yu, Chen, Po-Hao, Lin, Ang-Feng, Li, James C.-M., Hsueh, Pei-Ying, Kuo, Chun-Yi, Chen, Ying-Yen, Li, Jih-NungРік:
2014
Мова:
english
DOI:
10.1109/TEST.2014.7035362
Файл:
PDF, 1.80 MB
english, 2014
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
