An assay for local quality in cryo-electron micrographs of single particles
Haixiao Gao, Christian M.T Spahn, Robert A Grassucci, Joachim FrankТом:
93
Рік:
2002
Мова:
english
Сторінки:
10
DOI:
10.1016/s0304-3991(02)00157-2
Файл:
PDF, 656 KB
english, 2002