[IEEE 2015 IEEE International Conference on Electro/Information Technology (EIT) - Dekalb, IL, USA (2015.5.21-2015.5.23)] 2015 IEEE International Conference on Electro/Information Technology (EIT) - Comparative analysis of wavelet based approaches for reliable removal of ocular artifacts from single channel EEG

Напротязі 1-5 хвилин файл буде доставлено на ваш Telegram акаунт.

Увага: переконайтесь, що ви прив'язали свій акаунт до Z-Library Telegram боту.

Напртязі 1-5 хвилин файл буде доставлений на ваш Kindle пристрій.

Примітки: вам необхідно верифікувати кожну книгу, яку Ви надсилаєте на Kindle. Перевірте Вашу електронну скриньку на наявність листів з підтвердженням від Amazon Kindle Support.