Electron microscopy: probing the atomic structure and chemistry of grain boundaries, interfaces and defects
David A. Muller, Michael J. MillsТом:
260
Рік:
1999
Мова:
english
Сторінки:
17
DOI:
10.1016/s0921-5093(98)00979-4
Файл:
PDF, 959 KB
english, 1999