Measurement of nanosize etched pits in SiO2 optical fiber...

Measurement of nanosize etched pits in SiO2 optical fiber conduit using AFM

G. Espinosa, J.I. Golzarri, C. Vázquez, R. Fragoso

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

2003

Мова:

english

Сторінки:

DOI:

10.1016/s1350-4487(03)00118-5

Файл:

PDF, 166 KB

english, 2003

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась