Atomic force microscopy identification of Al-sites on...

Atomic force microscopy identification of Al-sites on ultrathin aluminum oxide film on NiAl(110)

Li, Yan Jun, Brndiar, J, Naitoh, Y, Sugawara, Y, Štich, I

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Мова:

english

Журнал:

Nanotechnology

DOI:

10.1088/0957-4484/26/50/505704

Date:

December, 2015

Файл:

PDF, 1.03 MB

english, 2015

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась