[IEEE 2015 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD) - Taipei (2015.9.7-2015.9.11)] 2015 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD) - The dependence of dark current on temperature in epitaxial Si:P BIB detector

Напротязі 1-5 хвилин файл буде доставлено на ваш Telegram акаунт.

Увага: переконайтесь, що ви прив'язали свій акаунт до Z-Library Telegram боту.

Напртязі 1-5 хвилин файл буде доставлений на ваш Kindle пристрій.

Примітки: вам необхідно верифікувати кожну книгу, яку Ви надсилаєте на Kindle. Перевірте Вашу електронну скриньку на наявність листів з підтвердженням від Amazon Kindle Support.