[IEEE 2014 IEEE 2nd International Conference on Emerging Electronics (ICEE) - Bengaluru, India (2014.12.3-2014.12.6)] 2014 IEEE 2nd International Conference on Emerging Electronics (ICEE) - Influence of gate and drain bias on the bias-stress stability of flexible organic thin-film transistors

Напротязі 1-5 хвилин файл буде доставлено на ваш Telegram акаунт.

Увага: переконайтесь, що ви прив'язали свій акаунт до Z-Library Telegram боту.

Напртязі 1-5 хвилин файл буде доставлений на ваш Kindle пристрій.

Примітки: вам необхідно верифікувати кожну книгу, яку Ви надсилаєте на Kindle. Перевірте Вашу електронну скриньку на наявність листів з підтвердженням від Amazon Kindle Support.