Sub-Micrometer X-ray Tomography of Radiolarians: Computer Modeling and Skeletonization
Wagner, Roger C., Jungck, John R., Van Loo, DenisТом:
23
Мова:
english
Журнал:
Microscopy Today
DOI:
10.1017/s1551929515000747
Date:
September, 2015
Файл:
PDF, 3.49 MB
english, 2015
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
