Transmission electron microscopy and high-resolution...

Transmission electron microscopy and high-resolution electron microscopy of growth defects in La 2- x Sr x CuO 4 thin films

Alimoussa, A., Casanove, M.-J., Hutchison, J. L.

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Мова:

english

Журнал:

Philosophical Magazine A

DOI:

10.1080/01418619708200006

Date:

November, 1997

Файл:

PDF, 3.25 MB

english, 1997

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась