Defect characterization and analysis of III-V nanowires grown by Ni-promoted MBE
L. Lari, R. T. Murray, M. H. Gass, T. J. Bullough, P. R. Chalker, J. Kioseoglou, G. P. Dimitrakopulos, Th. Kehagias, Ph. Komninou, Th. Karakostas, C. Chèze, L. Geelhaar, H. RiechertТом:
205
Рік:
2008
Мова:
english
Сторінки:
4
DOI:
10.1002/pssa.200780132
Файл:
PDF, 251 KB
english, 2008