Thermal activation effects on the stoichiometry of indium zinc oxide thin-film transistors
Doo Na Kim, Gun Hee Kim, Dong Lim Kim, Si Joon Kim, Hyun Jae KimТом:
207
Рік:
2010
Мова:
english
Сторінки:
5
DOI:
10.1002/pssa.200983762
Файл:
PDF, 466 KB
english, 2010