Characterisation of Si/Ge0.5Si0.5 Strained-Layer...

Characterisation of Si/Ge0.5Si0.5 Strained-Layer Superlattices on SIMOX Substrates

Chenglu Lin, P. L. F. Hemment, C. W. M. Chan, Jinhua Li, Wenhua Zhu, Rushan Ni, Guoliang Zhou, Shichang Zou

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

132

Рік:

1992

Мова:

english

Сторінки:

DOI:

10.1002/pssa.2211320217

Файл:

PDF, 373 KB

english, 1992

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась