Thermal and electrical properties of high-quality freestanding GaN wafers with high carrier concentration
Yuichi Oshima, Takehiro Yoshida, Takeshi Eri, Masatomo Shibata, Tomoyoshi MishimaТом:
4
Рік:
2007
Мова:
english
Сторінки:
4
DOI:
10.1002/pssc.200674719
Файл:
PDF, 223 KB
english, 2007