Scanning electron microscopy studies of double-layer...

Scanning 1997 Vol. 19; Iss. 1

Scanning electron microscopy studies of double-layer silicon structures prepar by epitaxy and direct bonding

A. V. Govorkov, K. L. Enisherlova, M. G. Milvidskii, E. N. Chervyakova

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

1997

Мова:

english

Сторінки:

DOI:

10.1002/sca.4950190108

Файл:

PDF, 1.31 MB

english, 1997

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась